激光輪廓測(cè)量?jī)x / 3D視覺(jué)系統(tǒng)
使用三角反射法的激光位移計(jì)。向目標(biāo)物表面照射帶狀激光,通過(guò)使用CMOS接收其反射光的變化,可以非接觸方式測(cè)量高度、高度差、寬度等輪廓(截面形狀)。通過(guò)對(duì)連續(xù)獲取的輪廓數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像處理獲得目標(biāo)物的3D形狀,實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量及檢測(cè)。
推薦項(xiàng)目
產(chǎn)品陣容
全自動(dòng)掃描3D視覺(jué)系統(tǒng)LJ-S8000 系列采用基恩士全新技術(shù)的電機(jī)掃描光切斷方式,內(nèi)置激光光源和掃描機(jī)構(gòu),因此無(wú)需照明、驅(qū)動(dòng)載物臺(tái)及編碼器,只需安裝,即可進(jìn)行尺寸、外觀、形狀等的檢測(cè)及辨別。此外,可對(duì)各種材質(zhì)的目標(biāo)物以最快拍攝0.2秒及重復(fù)精度0.3 μm的超高速度和精度進(jìn)行在線全數(shù)檢測(cè)。而且,只需通過(guò)“拍攝導(dǎo)航”(無(wú)需專(zhuān)業(yè)知識(shí),僅需選擇圖像即可完成設(shè)定)功能選擇合適的圖像即可完成調(diào)整,可大幅縮短設(shè)定及調(diào)整的工時(shí)。
產(chǎn)品特性
基恩士全新技術(shù) 飛掃激光 無(wú)需復(fù)雜的調(diào)整,即可實(shí)現(xiàn)高精度、穩(wěn)定檢測(cè)
通過(guò)專(zhuān)屬設(shè)計(jì)的電機(jī)使用光切斷光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行掃描,實(shí)現(xiàn)大景深。無(wú)需耗時(shí)進(jìn)行焦點(diǎn)調(diào)整或驅(qū)動(dòng)載物臺(tái)的系統(tǒng)構(gòu)建,即可拍攝高精細(xì)的3D圖像。
-
1高亮度藍(lán)色激光
聚光密度更高、成像光更細(xì),實(shí)現(xiàn)高精度化 -
2高精細(xì)CMOS
-
3無(wú)刷直驅(qū)電機(jī)
實(shí)現(xiàn)無(wú)電刷的超高耐久性
無(wú)需照明/ 驅(qū)動(dòng)載物臺(tái)/ 編碼器
無(wú)需照明
無(wú)需載物臺(tái)
無(wú)需編碼器
3200point/profile,準(zhǔn)確捕捉真實(shí)的形狀;16KHZ,超高速采樣;自動(dòng)補(bǔ)正測(cè)量,不易受產(chǎn)品偏移影響;3個(gè)步驟輕松完成設(shè)定,兼顧高精度和易操作性。
產(chǎn)品特性
超高精度測(cè)量 為以往的 4 倍*
采用 3200 points/profile 超高精度測(cè)量,可以精確地繪制出目標(biāo)物的形狀。通過(guò)呈現(xiàn)“真實(shí)形狀”,從而實(shí)現(xiàn)精確的尺寸測(cè)量和外觀檢測(cè)。
* 與本公司LJ-V7000 系列產(chǎn)品的比較。
傳統(tǒng)*
- 粗略
- 數(shù)值跳動(dòng)
- 容易受表面狀態(tài)的影響
* 與本公司LJ-V7000 系列產(chǎn)品的比較。
LJ-X8000
- 細(xì)致入微
- 精確
- 各種表面狀態(tài)都可穩(wěn)定檢測(cè)
能夠?qū)崿F(xiàn)超高精度的理由
如果僅單純地提升CMOS 的像素?cái)?shù),單個(gè)像素變小,無(wú)法得到足夠的受光量。結(jié)果會(huì)導(dǎo)致高度方向的精度下降、工件檢測(cè)能力的下降。LJ-X8000 系列為了解決此問(wèn)題,采用了下述新技術(shù)。
柱面物鏡
采用特別設(shè)計(jì)的柱面物鏡,照射平行光。抑制目標(biāo)物表面的反射光擴(kuò)散。
大口徑受光鏡頭
除了特別的光學(xué)設(shè)計(jì),還搭載以往設(shè)備3 倍* 測(cè)量面積的大口徑受光鏡頭,大幅提高受光量。
* 與本公司LJ-V7000 系列產(chǎn)品的比較。
高精度 CMOS 為以往的 4 倍*
搭載 3200 points/profile 的新開(kāi)發(fā)高精度 CMOS。
* 與本公司LJ-V7000 系列產(chǎn)品的比較。
輪廓對(duì)齊功能
生成 3D 圖像時(shí),分別用 X?Z?θ 補(bǔ)償 2D 輪廓的位置。消除振動(dòng)、偏心、工件彎曲及起伏等影響,生成適于檢測(cè)的圖像。
無(wú)輪廓對(duì)齊
受搬運(yùn)振動(dòng)的影響,無(wú)法生成理想的 3D 圖像。
有輪廓對(duì)齊
通過(guò)輪廓對(duì)齊,可生成理想的 3D 圖像。可在線實(shí)現(xiàn)打痕、缺陷等穩(wěn)定檢測(cè)。
源代碼自動(dòng)生成功能可超簡(jiǎn)單地實(shí)現(xiàn)耗時(shí)的3D圖像處理二次開(kāi)發(fā)業(yè)務(wù)。只要掌握2D圖像處理的相關(guān)知識(shí),即可輕松開(kāi)發(fā)出限定的開(kāi)發(fā)人員才能開(kāi)發(fā)的3D圖像處理軟件。提供可連接LJ-X8000 系列/LJ-S8000 系列獲取圖像的通訊庫(kù)、可實(shí)現(xiàn)包括尺寸測(cè)量、輪廓測(cè)量、外觀檢測(cè)、位置修正、干擾去除、圖像合成等功能的測(cè)量庫(kù),以及直觀顯示3D圖像與結(jié)果的顯示庫(kù)。使用專(zhuān)屬UI,只需通過(guò)鼠標(biāo)的直觀操作即可設(shè)定這些庫(kù)。此外,使用源代碼自動(dòng)生成功能,即可將完成后的設(shè)定超簡(jiǎn)單地嵌入至用戶(hù)程序。
產(chǎn)品特性
源代碼自動(dòng)生成
通過(guò)通信、測(cè)量以及3D繪制這3種庫(kù)和源代碼自動(dòng)生成,高速開(kāi)發(fā)3D檢測(cè)系統(tǒng)。
從高精細(xì)3D數(shù)據(jù)的獲取、檢測(cè)處理到圖形化結(jié)果顯示,多方位支持客戶(hù)的流程。
STEP1 | 設(shè)定檢測(cè)
專(zhuān)屬UI可通過(guò)直觀操作創(chuàng)建3D圖像處理檢測(cè)的設(shè)定。也可實(shí)時(shí)確認(rèn)檢測(cè)結(jié)果。
STEP2 | 輸出源代碼
創(chuàng)建檢測(cè)設(shè)定后,僅需點(diǎn)擊源代碼輸出按鈕,即可完成自動(dòng)生成。無(wú)需編程。
STEP3 | 嵌入至程序
將測(cè)量庫(kù)與輸出的源代碼導(dǎo)入用戶(hù)的程序中即可完成嵌入。之后僅需調(diào)用測(cè)量函數(shù)便可獲得檢測(cè)結(jié)果。此外,輸出的源代碼也可自定義。除了在檢測(cè)設(shè)定UI中設(shè)定的內(nèi)容外,還可根據(jù)用戶(hù)特有的檢測(cè)規(guī)格靈活應(yīng)對(duì)。
*已導(dǎo)入的源代碼可在Visual Studio上重新編寫(xiě)。
尺寸測(cè)量、外觀檢測(cè)、圖像合成
高端的3D檢測(cè)工具也輕松自如
可提供位置修正、尺寸測(cè)量/外觀檢測(cè)工具、干擾過(guò)濾器、圖像合成功能、3D圖像繪制功能等各種過(guò)濾器的專(zhuān)屬庫(kù)。
尺寸測(cè)量
僅需選擇各種尺寸測(cè)量的工具后再選擇區(qū)域,即完成設(shè)定。無(wú)需繁瑣的算法構(gòu)建,可加快3D圖像處理檢測(cè)的開(kāi)發(fā)速度。
檢測(cè)瑕疵、缺陷
外觀檢測(cè)使用了不易受背景影響的高度數(shù)據(jù),也只需設(shè)定區(qū)域即可完成設(shè)定。即使是2D圖像處理難以檢測(cè)的帶有刻印和圖樣的目標(biāo)物表面,亦可不易受其表面狀態(tài)的影響,檢測(cè)出凹凸等。
檢測(cè)粘合劑的涂布
還備有專(zhuān)用于測(cè)量密封材料和粘合劑的工具。僅需點(diǎn)擊涂布位置,即使是復(fù)雜形狀也可輕松完成設(shè)定。無(wú)需對(duì)高難度的復(fù)雜形狀構(gòu)建區(qū)域設(shè)定的算法。
業(yè)界超快速度64000個(gè)輪廓/秒,可以同時(shí)測(cè)量不同反光強(qiáng)度的材質(zhì),高速度,高精度,高穩(wěn)定性。
LJ-G系列可在X及Z方向上精確測(cè)量物體表面的輪廓??赏高^(guò)28種測(cè)量模式測(cè)量表面輪廓上的高度、寬度及間隙。
采用白光干涉原理,可實(shí)現(xiàn)高速、高精度的3D測(cè)量。支持從高度差/體積測(cè)量等的測(cè)量到寬度/面積等各種測(cè)量。
產(chǎn)品特性
并非以點(diǎn)線測(cè)量,而是以“面”進(jìn)行測(cè)量
針對(duì)最大 10 × 10 mm 的測(cè)量區(qū)域,可瞬間獲取 8 萬(wàn)個(gè)點(diǎn)的高度。?由于采用白光干涉原理,不受材質(zhì)/顏色、死角的影響,實(shí)現(xiàn)了微米級(jí)的高精度測(cè)量。
在線實(shí)現(xiàn)高速全數(shù)檢測(cè)
測(cè)量多點(diǎn)時(shí),需要高精度且高速掃描目標(biāo)物。 因此,會(huì)將時(shí)間浪費(fèi)在移動(dòng)載物臺(tái)上,不易進(jìn)行全數(shù)檢測(cè)。?由于 WI-5000 系列是以面進(jìn)行同時(shí)測(cè)量,因此可大幅縮短測(cè)量時(shí)間,實(shí)現(xiàn)全數(shù)檢測(cè)。